用途：Apogee新的DLI-400測量儀設計用于測量400-700納米的光合有效輻射（PAR），是一種低成本的選擇，只在陽光和一些寬帶光源下準確?？梢詰脺y量后的修正系數來提高光源下的準確性；除了測量PAR，DLI-400測量儀還可以計算每日光積分（DLI）和光周期。
DLI-400測量儀有兩種不同的屏幕模式：存儲數據和實時查看數據。在存儲數據屏幕中，它顯示DLI測量值、光照時間和哪**收集的數據（*多99天以前）。實時查看數據屏幕顯示過去2.5秒內PPFD的運行平均值。
技術參數：
|
測量重復性 |
小于 0.5 % |
|
測量范圍 |
0 至 4000 μmol mˉ2 sˉ1 |
|
長期漂移 |
每年少于 2% |
|
視野 |
180° |
|
光譜測量范圍 |
(± 5 nm)370 至 650 nm（**陽光） |
|
余弦響應 |
± 5 % 在 75? 天頂角 |
|
響應時間 |
2.5 秒 |
|
測量頻率 |
3分鐘 |
|
數據記錄容量 |
99 天（DLI 和光周期），10 天（30 分鐘 PPFD/ePPFD 平均值） |
|
非線性 |
小于 1 %（*高 4000 μmol mˉ2 sˉ1） |
|
存儲數據分辨率 (PPFD) |
0.1 μmol mˉ2 sˉ1（≥1000時屏幕不顯示小數） |
|
存儲數據分辨率 (DLI) |
0.1 mol mˉ2 天ˉ1 |
|
存儲數據分辨率（光周期） |
0.1小時 |
|
連接性 |
Type--C 數據傳輸的 CSV 文件 |
|
ADC 分辨率 |
24 位 |
|
操作環境 |
-10 至 60 ℃；0 至 100 % 相對濕度 |
|
電池壽命 |
6個月 |
|
重量 |
67g |